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1、L：采用3.9〞彩色透液晶屏，中文菜單提示操作，以及ARM和16位A/D芯片。 2、操作方便：可現(xiàn)場手持、懸掛、支撐、卡入多種方式操作，所有能鍵直列面板，可實現(xiàn)能鍵切換。 3、安性：電壓接線配防護套，塑封鱷魚夾，無金屬裸露，測試安。 4、低耗：內(nèi)置鋰電池供電或外直電源供電，整機耗﹤5VA。

該校驗裝置為表源體式，其本身具有定頻、定相源性，因而不需配置何電壓、電、率電能標準，即可對各類示儀表、單相、三相電能表以及變送器行手動或自動檢定，并可將檢定結(jié)果打印出來。另外還配有標準 RS232 接口，可在計算機上直接操作校驗檢定過程。

GSZ-CV-2000型電容電壓性測試儀是測試頻率為1MHz的智能化數(shù)字的電容測試儀器，用于測試半導(dǎo)體器件PN結(jié)的勢壘電容在不同偏壓下的電容量，也可測試其它電容。

該儀器按照單晶硅物理測試方法家標準并參考美 A.S.T.M 標準而的，用于測試半導(dǎo)體材料縱向電阻率的用儀器。 儀器由主機、測試臺、二探針探頭、計算機等分組成，測量數(shù)據(jù)既可由主機直接顯示，亦可由計算機控制測試采集測試數(shù)據(jù)到計算機中加以分析，然后以表格，圖形方式統(tǒng)計分析顯示測試結(jié)果。

方型四探針探頭是種門測量半導(dǎo)體薄層電阻(面電阻)的方塊電阻測試儀配用的方型四探針測試探頭，用于測量小樣品的四探針探頭，可用于般半導(dǎo)體材料、導(dǎo)電薄膜(ITO透明氧化膜)，金屬薄膜……等物質(zhì)的薄層電阻。

方塊電阻測試儀是手持式方塊電阻測試儀,門測量半導(dǎo)體薄層電阻(面電阻)的新型儀器可用于測量般半導(dǎo)體材料、導(dǎo)電薄膜(ITO透明氧化膜)……等物質(zhì)的薄層電阻。